کتاب طراحی سیستم های هوشمند ساختمان
در این کتاب با روش های تست قطعات الکترونیکی نظیر دیود، تریستور، BJT، JFET و Mosfet آشنا شده و نحوه عیب یابی مدارات دارای BJTها و JFETها را با کمک یک اهم متر ساده و قوانین کریشهف خواهید آموخت. در ادامه تکنیک های کلی عیب یابی مدارات الکترونیکی اعم از بردهای صنعتی و … آموزش داده خواهد شد.
سرفصل ها
۱- تست دیود
۲- تست تریستورها
۳- تست تریاک ها
۴- تست کردن ترانزیستورهای BJT
۵- عیب یابی مدارات دارای ترانزیستور BJT
۶- تست کردن ترانزیستورهای اثر میدانی یا FETها
۷- عیب یابی مدارات دارای JFET
۸- عیب یابی تقویت کننده های عملیاتی
۹- برخی از اشکالات رایج در مدارات داری آپ امپ
۱۰- خلاصه مطلب
۱۱- تکنیک های عیب یابی
۱۲- بررسی دلایل به وجود آمدن عیب
۱۳- تحلیل خرابی
۱۴- ضمیمه ۱: شمای فنی قطعات
۱۵- ضمیمه ۲: ترسیم نقشه مدار
۱۶- ضمیمه ۳: سیمبل های الکترونیکی
اطلاعات
مولفین: یاسمن قرایی -مرتضی سلطانیه
تعداد صفحه: 63
10 کالای مشابه
امتیاز شما
-
مصطفی آراسته | بیش از 4 سال قبل بنظر من ارزش خرید نداره مطلب زیادی بهتون یاد نخواهد داد