کتاب نحوه تست و عیب یابی قطعات در مدارهای الکترونیکی
zoom_out_map
chevron_left chevron_right

کتاب نحوه تست و عیب یابی قطعات در مدارهای الکترونیکی

8011002016
(4.1/7)

آشنایی با روش های تست قطعات الکترونیکی نظیر دیود، تریستور، BJT، JFET و Mosfet

0‎ریال (با مالیات) 0‎ریال (بدون مالیات)
اتمام موجودی
در این کتاب با روش های تست قطعات الکترونیکی نظیر دیود، تریستور، BJT، JFET و Mosfet آشنا شده و نحوه عیب یابی مدارات دارای BJTها و JFETها را با کمک یک اهم متر ساده و قوانین کریشهف خواهید آموخت. در ادامه تکنیک های کلی عیب یابی مدارات الکترونیکی اعم از بردهای صنعتی و … آموزش داده خواهد شد.
سرفصل ها

۱- تست دیود

۲- تست تریستورها

۳- تست تریاک ها

۴- تست کردن ترانزیستورهای BJT

۵- عیب یابی مدارات دارای ترانزیستور BJT

۶- تست کردن ترانزیستورهای اثر میدانی یا FETها

۷- عیب یابی مدارات دارای JFET

۸- عیب یابی تقویت کننده های عملیاتی

۹- برخی از اشکالات رایج در مدارات داری آپ امپ

۱۰- خلاصه مطلب

۱۱- تکنیک های عیب یابی

۱۲- بررسی دلایل به وجود آمدن عیب

۱۳- تحلیل خرابی

۱۴- ضمیمه ۱: شمای فنی قطعات

۱۵- ضمیمه ۲: ترسیم نقشه مدار

۱۶- ضمیمه ۳: سیمبل های الکترونیکی

اطلاعات

مولفین: یاسمن قرایی -مرتضی سلطانیه

تعداد صفحه: 63

16 محصول مشابه
امتیاز شما
  • مصطفی آراسته | بیش از 3 سال قبل
    بنظر من ارزش خرید نداره مطلب زیادی بهتون یاد نخواهد داد
    پاسخ | گزارش
    0 thumb_down
    0 thumb_up
ویرایش نظر
  یا لغو